インターネプコンに出展します！

ナヒテックは、2006年1月18日(水)～20日(金)に、東京ビックサイトにて開催されるインターネプコンに出展します。
(※㈱つくば研究支援センター殿との共同出展です。)

展示内容は、現在開発中のMITOUJTAGの次期バージョン(MITOUJTAG BASIC Version 1.2.4)による電子回路デバッグの実演を予定しています。
MITOUJTAGの次のバージョンでは、ブロックRAMを使ってFPGAの中にロジアナを埋め込む機能や、Spartan3Eの書き込み対応などの機能が追加され、さらにスゴいJTAGソフトウェアに進化します。

また、ナヒテックは最近、コンタクトプローブ(接触針)による回路検査と、JTAGとを組み合わせた、新しいプリント基板の検査技術を研究しています。その成果として、プリント基板検査ソリューションの実演もできたらと考えています。

そして、MITOUJTAG最新版の体験版の配布も予定しています。
というのは、前に配布していた無償評価版0.3.1と比べると、今のMITOUJTAGは比べ物にならないほど機能アップしています。あまりにも高機能化しているので、どのように変わったかを文章で書いて表現することが難しいくらいです。
そこで、最新のMITOUJTAGをできるだけ多くの方に体験していただくためには、お客様に実際にご利用いただいたほうが分かりやすいと思い、会場にお越しいただいた皆様に最新版をベースにしたMITOUJTAG体験版を無償で配布することを予定しています。(お名刺をご持参ください)

多くの方のご来場をお待ちしております。
皆様、ぜひともご来場ください。

展示内容の詳細は下記のURLをご覧下さい。

「展示会 インターネプコン出展のご案内」
http://www.nahitech.com/inj2006.html