JTAG信号解析装置

最近、JTAG信号解析装置を開発しています。

この装置(左の基板)は、JTAG信号をキャプチャして、それを解析する装置です。

サンプリング速度は最高200MHz。基板には32MByteのSDRAMが載っているので大規模なデータでも記録できます。サンプリングした波形を単純に記録するのではなく、データ量を削減する工夫がされているため長時間(分単位)の記録を可能にしています。

下の画面は、XILINXのiMPACTが起動して、デバイスを自動認識する際の信号を解析したものです。表示されたデータをクリックすると、画面の下半分に波形が(アスキーアートで)表示されます。
※いずれちゃんとグラフィカルに表示されるようにします。

次の画面は、基板検査用ソフトウェアでバウンダリスキャンを行った際のJTAG信号をキャプチャして、それを解析して、動かされる端子の状態を表示させたものです。
バウンダリスキャンによってどの端子がどのように操作されたかが一目瞭然です。

もちろん生の波形や、解析データや、バウンダリスキャンで操作されるであろう信号の波形などを、他のソフトで使用できるようにエクスポートすることもできます。
流れているJTAG信号を取り込んで、業界標準のSVFファイルにして出力することも可能です。

さらに、BSDLファイルを登録することで命令やデータレジスタの内容を分かりやすい形で表示できます。
また、IEEEの規格に準拠したとおりのJTAG信号だけではなく、「イレギュラー」な形式のJTAG信号も解析できるように工夫されています。

さらにもう一つの大きな特徴として、キャプチャしたJTAG信号をそのまま出力することができるという点があります。例えば、XILINXのコンフィグROMに書き込んでいる際の波形を記録して、それを忠実に再生することで別のコンフィグROMに書き込むといったことができます。これは実際に確認済みです。

波形を再生した際にエラーが生じた場合には、そのエラー発生箇所を示してくれます。
バウンダリスキャンを行う波形を再生するときであれば、「何番目のデバイスの何番ピンの状態が異常」と表示されます。もちろん、このエラー検出は、端子ごとにマスクすることもできます。

●特徴
・最高5ns単位でサンプリング可能。
・パソコンと切り離してスタンドアローンでの動作が可能。(SHマイコンを搭載しています)
・パソコンとの間はUSB2.0(HighSpeedモード)で通信。
・SDメモリカード(MCMカードも可)を搭載。波形データの保存に便利。
・リアルタイムクロック搭載。波形再生時の時刻と結果記録用。
・JTAG信号の電圧は1.8V～5Vに対応。
・TRSTやRESETなどの汎用入出力信号も含めて解析可能。
・キャプチャしたJTAG信号を、タイミングを維持したまま再生可能。
・キャプチャしたJTAG信号を再生することによってバウンダリスキャンテストが可能。
・不揮発性メモリをオンボードで搭載しており、バウンダリスキャンテストの結果や波形データを保存。
・プリンタポートを装備。検査結果のプリントアウトや、汎用のJTAGケーブルを接続することが可能。
・汎用I/Oを装備。（複数台での同期動作も可能）

この装置の用途は、
・各種JTAGソフトウェアの開発における動作検証用
・基板検査ソフトウェアの出力信号の妥当性検証
などを想定しています。

たとえば、エンジニアが基板検査用のバウンダリスキャンソフトウェアを操作してバウンダリスキャンテストパターンを作成したとします。しかし、基板検査ソフトはその生成結果をわかりやすい形でエクスポートできないことが多々あります。そんなとき本装置を使えば、エンジニアが想定したとおりにターゲットICの端子が動くようにJTAG信号を生成されているかを、実際の波形を取り込んで検証することができます。

この装置は、来年１月下旬に発売予定です。

本装置の詳細やお見積もり依頼はinfo@tokudenkairo.co.jpでお待ちしております。お問い合わせお待ちしております。